分光光度計
対訳 （日本語－英語－中国語）
日本語、英語、中国語の対訳を紹介します。 論文作成や翻訳などの参考にお役立てください。
機器名
| 日本語 | 英語 | 中国語 |
|---|
| 分光光度計 | spectrophotometer | 分光光度计 |
| UV可視光分光光度計 | UV-visible spectrophotometer | 紫外可见分光光度计 |
| 蛍光分光光度計 | fluorescence spectrophotometer | 荧光分光光度计 |
部品
| 日本語 | 英語 | 中国語 |
|---|
| 光源 | light source | 光源 |
| モノクロメーター | monochromator | 单色器 |
| 回折格子 | diffraction grating
adjustable aperture | 衍射光栅
可调光圈 |
| キュベット | cuvette | 分光液槽
吸收池 |
| フォトレジスタ | photoresistor | 光敏电阻 |
| 増幅器 | amplifier | 放大器 |
技術用語
| 日本語 | 英語 | 中国語 |
|---|
| 測定する | measure
read | 测量 |
検量線
標準曲線 | standard curve | 标准曲线 |
| 吸光度 | absorbance | 吸光度 |
| 定量 | quantify | 量化 |
| BCA アッセイ | BCA assay | BCA蛋白测定试剂 |
| プロットする | plot | 制图 |
| 実測値 | reading | 实测值 |
| XXXnmの波長で | at a wavelength of XXX nm | 波长为XXXnm |
技術情報リンク
技術情報が記載されたサイトを紹介します。 関連ページに直接リンクしています。 研究、論文作成、翻訳などの参考にお役立てください。
製品情報リンク
製品情報が記載されたサイトを紹介します。 関連ページに直接リンクしています。 製品購入、市場調査などの参考にお役立てください。
販売店リンク
特許情報リンク
特許を調べるときに便利なサイトを紹介します。 論文作成や権利侵害の調査などの参考にお役立てください。
商標情報リンク
商標を調べるときに便利なサイトを紹介します。 新製品のネーミングの検討や、権利侵害の調査などの参考にお役立てください。
-
日本国特許庁 - 称呼検索 -
※検索方法： 上のリンク先の検索窓に調べたい用語をカタカナ(例、ハナコ)で入力し、「検索」をクリックしてください。ヒットした商標出願の一覧が表示されます。 ヒット件数が多い場合は、類似群コードに「10C01」と入力して検索してください（10C01は「測定機械器具」の類似群コードです）。類似群コードの調べ方は以下を参考にしてください。
-
商品・役務名検索 - 日本国特許庁 -
※類似群コードの調べ方： 上のリンクの商品･役務名に「分光光度計」(全角のみ)と入力し、「検索」をクリックしてください。ヒットした商品･役務名の一覧が表示されます。表示された一覧の中に、関連する商品・役務名として、「分光光度計」等が見つかります。 その右側に類似群コード「10C01」が見つかります。
-
類似商品・役務審査基準（国際分類第11-2019版対応）※PDF
※上のリンクで類似群コードをページ検索すると、対応する商品・役務を確認できます。
-
米国特許庁 - 商標検索 -
※上のリンクの「Trademark Electronic Search System (TESS)」の「Search Trademarks」ボタンをクリックします。 次に「Word and/or Design Mark Search (Structured) 」ボタンをクリックします。 一番目のSearch Termに「009」を入れ、その横のFieldに「International Class」を選択し、Operatorを「AND」にします。 Search Termに調べたい用語を英語（例、robert）で入力し、その横のFieldを「Full Mark」にして、Submit Queryをクリックすると、robertに関連する商標の一覧が表示されます。 International Classの調べ方は以下を参考にしてください。
-
米国の国際分類の検索 - 米国特許庁 -
※International Classの調べ方：上のリンクのEnter Search Termsに「Spectrophotometer」と入力し、リターンキーを入力します。
3桁のクラス(例、009（Electronic spectrophotometer for use in identifying and measuring colors）)が見つかりますので、これを上記米国商標検索の「International Class」として使用できます。
-
WIPOの国際分類の検索 - WIPO (Nice Classification) -
※上のリンクのSearch Termsに「photometer」と入力して、Searchボタンで検索します。 表示されたクラスの一覧から調べたい分野に関するClass(ここでは、9)を探します。米国の「International Class」に入力する際には、先頭に0を付与して3桁にし(例、009)上記商標検索の「International Class」に入力します。
意匠情報リンク
意匠を調べるときに便利なサイトを紹介します。 新製品のデザインの検討や、権利侵害の調査などの参考にお役立てください。
-
日本国特許庁 - キーワード検索 -
※検索方法： 上のリンク先の「意匠に係る物品／物品名／原語物品名」の検索窓に調べたい用語（例：分光光度計)を入力し、「検索」をクリックしてください。ヒットした意匠出願の一覧が表示されます。
