共焦点顕微鏡
対訳 （日本語－英語－中国語）
日本語、英語、中国語の対訳を紹介します。 論文作成や翻訳などの参考にお役立てください。
機器名
| 日本語 | 英語 | 中国語 |
|---|
| 共焦点顕微鏡 | confocal microscope | 共聚焦显微镜 |
| 共焦点レーザー(走査型）顕微鏡 | confocal laser scanning microscope | 共聚焦激光扫描显微镜
激光扫描共聚焦显微镜
激光共聚焦扫描显微镜 |
部品
| 日本語 | 英語 | 中国語 |
|---|
| レーザー | laser | 激光
镭射 |
| コリメーターレンズ | collimator lens | 准直仪透镜
准直透镜 |
| ダイクロイックミラー | dichroic mirror
dicromatic mirror | 二向色镜
双色镜 |
| 検出器 | detector | 探测器 |
| CCD | charge coupled device | CCD |
| 共焦点ピンホール | confocal pinhole
pinhole of a confocal microscope | 共聚焦针孔
激光扫描共聚焦显微镜的针孔 |
| 光路分離素子 | beam splitter | 光束分离器
分束器 |
| 走査光学系 | scanning optical system | 扫描光学系统 |
| 投影レンズ | scan lens | 扫描透镜 |
| 結像レンズ | tube lens | 成像透镜 |
| 対物レンズ | objective
objective lens | 物镜 |
技術用語
| 日本語 | 英語 | 中国語 |
|---|
| 共焦点顕微鏡解析 | confocal microscopy | 共聚焦显微镜分析 |
| 顕微鏡で観察 | observed under a microscope | 在显微镜下观察 |
| 解像度 | resolution | 分辨率
解像度 |
| 焦点を合わせる | focus on | 使聚焦于
对焦于 |
| 焦平面 | focal plane | 焦平面
聚焦平面 |
技術情報リンク
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製品情報リンク
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販売店リンク
特許情報リンク
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商標情報リンク
商標を調べるときに便利なサイトを紹介します。 新製品のネーミングの検討や、権利侵害の調査などの参考にお役立てください。
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日本国特許庁 - 称呼検索 -
※検索方法： 上のリンク先の検索窓に調べたい用語をカタカナ(例、ハナコ)で入力し、「検索」をクリックしてください。ヒットした商標出願の一覧が表示されます。 ヒット件数が多い場合は、類似群コードに「10B01」と入力して検索してください（10B01は「写真機械器具 映画機械器具 光学機械器具」の類似群コードです）。類似群コードの調べ方は以下を参考にしてください。
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商品・役務名検索 - 日本国特許庁 -
※類似群コードの調べ方： 上のリンクの商品･役務名に「顕微鏡」(全角のみ)と入力し、「検索」をクリックしてください。ヒットした商品･役務名の一覧が表示されます。表示された一覧の中に、関連する商品・役務名として、「顕微鏡」等が見つかります。 その右側に類似群コード「10B01」が見つかります。
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類似商品・役務審査基準（国際分類第11-2019版対応）※PDF
※上のリンクで類似群コードをページ検索すると、対応する商品・役務を確認できます。
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米国特許庁 - 商標検索 -
※上のリンクの「Trademark Electronic Search System (TESS)」の「Search Trademarks」ボタンをクリックします。 次に「Word and/or Design Mark Search (Structured) 」ボタンをクリックします。 一番目のSearch Termに「009」を入れ、その横のFieldに「International Class」を選択し、Operatorを「AND」にします。 Search Termに調べたい用語を英語（例、robert）で入力し、その横のFieldを「Full Mark」にして、Submit Queryをクリックすると、robertに関連する商標の一覧が表示されます。 International Classの調べ方は以下を参考にしてください。
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米国の国際分類の検索 - 米国特許庁 -
※International Classの調べ方：上のリンクのEnter Search Termsに「microscope」と入力し、リターンキーを入力します。
3桁のクラス(例、009（microscope）)が見つかりますので、これを上記米国商標検索の「International Class」として使用できます。
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WIPOの国際分類の検索 - WIPO (Nice Classification) -
※上のリンクのSearch Termsに「microscope」と入力して、Searchボタンで検索します。 表示されたクラスの一覧から調べたい分野に関するClass(ここでは、9)を探します。米国の「International Class」に入力する際には、先頭に0を付与して3桁にし(例、009)上記商標検索の「International Class」に入力します。
意匠情報リンク
意匠を調べるときに便利なサイトを紹介します。 新製品のデザインの検討や、権利侵害の調査などの参考にお役立てください。
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日本国特許庁 - キーワード検索 -
※検索方法： 上のリンク先の「意匠に係る物品／物品名／原語物品名」の検索窓に調べたい用語（例：顕微鏡)を入力し、「検索」をクリックしてください。ヒットした意匠出願の一覧が表示されます。
